掃描電鏡分析（SEM）是一種高分辨力電子顯微鏡技術(shù)，主要用于研究尺度上非常小的目標(biāo)物質(zhì)的分子結(jié)構(gòu)。這種技術(shù)是通過掃描線圈使電子束掃查試樣表面，并與顯像管電子束的掃描同步，用掃查過程中產(chǎn)生的各種信號(hào)來調(diào)制顯像管的光點(diǎn)亮度，從而產(chǎn)生圖像。中科檢測開展掃描電鏡分析服務(wù)，具備CMA、CNAS資質(zhì)認(rèn)證。

在石油、地質(zhì)、礦物領(lǐng)域，電子、半導(dǎo)體領(lǐng)域，醫(yī)學(xué)、生物學(xué)領(lǐng)域，化工、高分子材料領(lǐng)域，公安刑偵工作領(lǐng)域，以及農(nóng)、林業(yè)等方面。

1能夠直接觀察樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)，樣品制備過程簡單，對樣品的形狀沒有任何限制，粗糙表面也可以直接觀察；
2樣品在樣品室中可動(dòng)的自由度非常大，可以作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn)，這對觀察不規(guī)則形狀樣品的各個(gè)區(qū)域細(xì)節(jié)帶來了方便；
3圖象富有立體感。掃描電鏡的景深是光學(xué)顯微鏡的數(shù)百倍，是透射電鏡的數(shù)十倍，故所得到的圖象立體感比較強(qiáng)；
4放大倍數(shù)范圍大，從幾倍到幾十萬倍連續(xù)可調(diào)。分辨率也比較高，介于光學(xué)顯微鏡和透射電鏡之間；
5電子束對樣品的損傷與污染程度小。由于掃描電鏡電子束束流小，且不是固定一點(diǎn)照射樣品表面，而是以光柵掃描方式照射樣品，所以對樣品的損傷與污染程度比較?。?br/>6在觀察樣品微觀形貌的同時(shí)，還可以利用從樣品發(fā)出的其它物理信號(hào)作相應(yīng)的分析，如微區(qū)成分分析。如果在樣品室內(nèi)安裝加熱、冷卻、彎曲、拉伸等附件，則可以觀察相變、斷裂等動(dòng)態(tài)的變化過程。

1.擁有眾多先進(jìn)儀器設(shè)備并通過CMA/CNAS資質(zhì)認(rèn)可，測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠，檢測報(bào)告具有國際公信力。

2.科學(xué)的實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)，保障每個(gè)服務(wù)環(huán)節(jié)的高效運(yùn)轉(zhuǎn)。

3.技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)豐富，可提供專業(yè)、迅速、全面的一站式服務(wù)。

4.服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全球，眾多一線品牌指定合作實(shí)驗(yàn)室。

銷售：出具檢測報(bào)告，提成產(chǎn)品競爭力；

研發(fā)：縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本；

質(zhì)量：判定原料質(zhì)量，減少生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)；

診斷：找出問題根源，改善產(chǎn)品質(zhì)量；

科研：定制完整方案，提供原始數(shù)據(jù)；

競標(biāo)：報(bào)告認(rèn)可度高，提高競標(biāo)成功率；