SEM能譜是指掃描電子顯微鏡（SEM）結(jié)合能譜儀（如EDS或EDX）進(jìn)行材料或藥物等成分分析的技術(shù)。SEM能譜的工作原理是：各種元素具有自己的X射線特征波長(zhǎng)，特征波長(zhǎng)的大小取決于能級(jí)躍遷過程中釋放出的特征能量，能譜儀利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點(diǎn)來進(jìn)行成分分析。
SEM能譜的應(yīng)用范圍廣泛，包括高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機(jī)或有機(jī)固體材料分析，金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分的鑒定，固體材料的表面涂層、鍍層分析，金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領(lǐng)域。
中科檢測(cè)開展SEM能譜檢測(cè)服務(wù)，可為高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物等產(chǎn)品提供專業(yè)的SEM能譜檢測(cè)、定性分析、半定量分析、元素分析等服務(wù)。

1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機(jī)或有機(jī)固體材料分析；
2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分的鑒定；
3、可對(duì)固體材料的表面涂層、鍍層進(jìn)行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測(cè)；
4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領(lǐng)域；
5、進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、線、點(diǎn)分布分析。

SEM能譜檢測(cè)、定性分析、半定量分析、元素分析等。

GB/T 35099-2018 微束分析 掃描電鏡-能譜法 大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析
GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析
GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法
DB44/T 1215-2013 利用掃描電子顯微術(shù)和X射線能譜法表征單壁碳納米管的特性

1.擁有資深專家團(tuán)隊(duì)，專業(yè)的工程師團(tuán)隊(duì)和全面的檢測(cè)能力。

2.多年檢測(cè)行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，成熟的質(zhì)量管控團(tuán)隊(duì)，可為客戶提供質(zhì)量管控方案。

3.專業(yè)的體系審核團(tuán)隊(duì)，可為企業(yè)提供質(zhì)量審核服務(wù)，查找質(zhì)量問題降低質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)。

4.中科檢測(cè)是綜合化的檢測(cè)集團(tuán)，集檢驗(yàn)檢測(cè)、認(rèn)證鑒定、技術(shù)服務(wù)、咨詢培訓(xùn)為一體的公共服務(wù)機(jī)構(gòu)。

產(chǎn)品質(zhì)控：國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)銷售，資質(zhì)認(rèn)證等等；

電商品控：產(chǎn)品進(jìn)入超市或賣場(chǎng)，網(wǎng)站商城等；

貿(mào)易活動(dòng)：政府部門、事業(yè)單位招投標(biāo)、申請(qǐng)補(bǔ)助等；

工廠評(píng)估：工商抽檢或市場(chǎng)監(jiān)督等；